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測試與失效分析

Testing and Failure Analysis

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比表面積分析儀(BET)

設備型號:NOVAtouch
針對各類儲能業(yè)務需求,TIES力圖發(fā)展成為布局全面,面向市場,集測試分析、失效分析、資質(zhì)認證、技術開發(fā)、工程放大、智能制造、高價值信息服務、高端培訓為一體的研發(fā)型企業(yè)。 聯(lián)系我們

技術參數(shù)

1、孔隙度:3.5-5000?;

2、比表面積:低至0.01m2/g;

3、強大的數(shù)據(jù)處理功能

外比表面(STSA), 微孔面積, 微孔體積, 平均吸附能,統(tǒng)計厚度, 超臨界吸附分析等

可計算分形維數(shù),判斷孔型

具有全部孔分析模型,包括SF,HK,以及超過15種模型的最完整的“密度函數(shù)理論(DFT)”庫等


應用范圍

廣泛應用于新能源、碳材料、催化劑、有機材料、礦物質(zhì)、金屬粉末和鐵酸鹽、骨骼、制藥、環(huán)境、建筑領域。



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