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測試與失效分析

Testing and Failure Analysis

紅外光譜儀(FTIR)

設(shè)備型號:VERTEX 80V型
針對各類儲能業(yè)務(wù)需求,TIES力圖發(fā)展成為布局全面,面向市場,集測試分析、失效分析、資質(zhì)認(rèn)證、技術(shù)開發(fā)、工程放大、智能制造、高價值信息服務(wù)、高端培訓(xùn)為一體的研發(fā)型企業(yè)。 聯(lián)系我們

技術(shù)參數(shù)

1. 光譜分辨率,優(yōu)于0.06 cm

2.覆蓋太赫茲至紫外波段的全光譜范圍

3.UltraScanTM真正準(zhǔn)直、高分辨率的專利干涉儀

4.雙通道、24位高速模/數(shù)轉(zhuǎn)換器


應(yīng)用范圍

VERTEX適用于各種極限條件下的研究工作,如:高分辨率測試、超快速掃描、步進(jìn)掃描及UV擴(kuò)展譜區(qū)的測量。布魯克公司獨特的數(shù)字化DigiTectTM數(shù)據(jù)采集專利技術(shù)有效防止外部信號干擾,確保了很好的信噪比


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技術(shù)參數(shù)(1)角度重現(xiàn)性: 0.0001(2)角度精度: 0.0001(3)2θ角范圍:-110~168(4)發(fā)生器最大輸出功率:3KW應(yīng)用范圍物相定性定量分析、結(jié)晶度分析、晶胞參數(shù)計算、晶粒大小分析、高低溫原位分析、透射分析。  

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